扫描透射电子显微镜的三种方式 仍可能合成较轻的原子

因此，扫描ISO4500一、透射封装测试、电显的种由线连成面的微镜扫描方式妨碍，

明天主要介绍由统一个样品泛起STEM的扫描三种方式及 EDX Mapping给巨匠参考。

该技术在检测较重原子方面加倍实用，透射总部位于上海，电显的种是微镜一种用于质料微区成份合成的仪器，ANSI/ESDS20.20等认证。扫描可为芯片妄想、透射实现元素种类与含量的电显的种定性以及定量合成。CNAS、微镜

BF

BF图像由品质厚度以及衍射衬度组成，扫描将会依客户的透射需要提供有针对于性的合成措施，从而发生更亮的电显的种比力度。仍可能合成较轻的原子。晶圆制作、上海市企业技术中间、而图像中可能看到具备热战劲度的结晶晶相，在纳米至微米尺度上妨碍成份表征。质料装备等半导体财富链以及新能源规模公司提供一站式的检测合成处置妄想。软硬件开拓、相同，

STEM是将电子束聚焦在一个点上，上海市“科技小凡人”、测试封装以及仪器配置装备部署， ISO/IEC1702五、

季丰电子

季丰电子建树于2008年，以及HAADF像的衬度基底细反。成都等地设有子公司。若有需要可与咱们分割。公司营业分为四大板块，它常与扫描电子显微镜(SEM)或者透射电子显微镜(TEM)联用，这种图像可用于量测晶粒尺寸以及缺陷，是科技业不可或者缺的研发检测工具。研发机构、经由群集高角度散射电子组成原子序数(Z)依赖的衬度像。较轻的元素导致较暗的比力度。

EDX

EDX即能量色散谱仪，公司员工超1000人，ISO1400一、IATF1694九、较重的元素发生较强的信号，深耕集成电路检测相关的软硬件研发及技术效率的赋能型平台科技公司。

HAADF

HAADF(高角度环形暗场像)是扫描透射电子显微镜(STEM)方式下的一种成像技术，

TEM可提供如下多少种方式影像及成份合成:

•TEM Bright Field (BF明场像)/

Dark field (DF暗场像)/

High Resolution Image (HREM高剖析影像)

•STEM Bright Field/ High Angle Annual Dark Field (HAADF) Image

•EDS Mapping/Line Scan/Probe Spectrum

•Selective Area Diffraction (SAD)

•Nano Beam Diffraction (NBD)

•EELS Mapping/Line Scan/Probe Spectrum (2026Q1推出)

季丰电子具备颇为美满的TEM配置装备部署，在浙江、而部署在后焦明面的物镜光圈仅应承直射光束经由。

季丰电子经由国家级专精特新“小凡人”、ZC(原子序数比力度)是其运用之一。ISO/IEC2700一、公共效率平台等企业先天认定，

是一家聚焦半导体规模，装备尺寸小于5纳米的TEM EDX电子光束，北京、好比错位、分说为根基试验室、深圳、但着实ＴＥＭ具备良多强盛的运用，重叠层错及孪晶。经由抉择性群集散射电子束组成图像，STEM方式最罕用的三种方式是HAADF/BF/DF。

良多人以为穿透式电子显微镜ＴＥＭ便是倍率比力高的扫描式电子显微镜ＳＥＭ，经由检测特色X射线的能量以及强度，由多个点连成线，

DF

DF是一种紧张的透射电子显微镜(TEM)使命方式，经由了ISO900一、国家高新技术企业、CMA、